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奧地利SBI薄膜和片材KAPA紅外厚度測量儀
2025-08-13 09:23:13


應(yīng)用領(lǐng)域

用于食品包裝的多層塑料薄膜和片材。

 

阻隔薄膜/片材(層測量)

 圖片2.png

測量原理

KAPA(總厚度)

 

它基于非接觸式、間接厚度測量原理。傳感器和滾筒之間的電容取決于被測板材的電介質(zhì)以及傳感器到滾筒之間的距離。為了消除傳感器與滾筒之間的距離波動的影響,使用渦流傳感器(與電容式傳感器位于同一外殼中)永久測量該距離。根據(jù)該測量距離對電容傳感器的結(jié)果進行校正。

 

IR(對于EVOH層)

 

它基于非接觸式傳輸測量原理。為了確定 EVOH 層厚度,記錄了塑料的寬紅外光譜,并使用我們的現(xiàn)代分析方法評估了 EVOH 聚合物分子的吸收情況。

咨詢電話:13522079385

 

技術(shù)規(guī)格:

技術(shù)數(shù)據(jù) 卡帕 紅外

測量系統(tǒng) 電容/渦流 紅外線的

厚度范圍 最大 3 毫米 > 5 微米*

測量間隙 4.4毫米 35毫米

傳感器分辨率 ≤0.1微米 0.5微米

重復(fù)性 ≤±0.5微米 ≤ 2 微米*

測量速度 10-300毫米/秒可調(diào) 25毫米/秒可調(diào)

校準 每種材料所必需的


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